NPN ve PNP tipi olarak adlandırılan klasik tip
transistörler (İki Kutuplu Jonksiyon Transistör - BJT) alçak
giriş empedansına sahiptirler. BJT 'ler, hem elektron akımı
hem de delik (boşluk) akımının kullanıldığı akım kontrollü
elemanlardır.
FET (Field Effect Transistör - Alan Etkili Transistör)
ise yüksek giriş empedansına sahip, tek kutuplu, gerilim kontrollü
bir elemandır. Elektrik alanı prensiplerine göre çalıştığından
alan etkili transistörler olarak bilinir. FET 'ler, transistörlerin
kullanıldığı yerlerde rahatlıkla kullanılıbilir.
FET 'lerin klasik transistörlere (BJT) göre
üstünlükleri şöyle sıralanabilir:
Giriş empedansları daha yüksektir. (BJT 'de
2KΩ iken FET 'lerde yaklaşık 100MΩ 'dur.)
Anahtar olarak kullanıldığında, sapma gerilimi yoktur.
Radyasyon (yayınım) etkisi yoktur.
BJT 'lere nazaran daha az gürültülüdür.
Isısal değişimlerden etkilenmezler.
BJT 'lere göre daha küçüktür. Bu nedenle entegrelerde daha
fazla kullanılırlar.
Yüksek giriş empedansı ve alçak elektrodlar arası kapasitans
özelliği ile yüksek frekans devrelerinde rahtlıkla kullanılırlar.
BJT 'lere göre sakıncası ise band genişliklerinin dar olması
ve çabuk hasar görebilmesidir.
Alan etkili transistörler (FET) iki ana gruba
ayrılır:
JFET (Junction Field Effect Transistor, Eklem
Alan Etkili Transistör)
MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistör,
Metal Oksit Yarı İletken Alan Etkili Transistör)
JFET 'in Çalışması
BJT 'lerde olduğu gibi JFET 'lerde de 3 terminal
vardır. Bunlar; Drain (Oluk, Akaç), Source (Kaynak) ve Gate
(Kapı, Geçit) dir. Transistörlerde, kollektörün karşılığı
drain, emiterin karşılığı source, beyzin karşılığı gate 'dir.
Transistörler nasıl NPN ve PNP tipi olmak üzere iki tipte
ise JFET 'ler de;
* n - kanallı JFET
* p - kanallı JFET
olmak üzere iki tipte imal edilirler.
.gif)
Şekil 1.1(a) - n-kanallı JFET 'in Fiziksel Yapısı ve Smbolü |
.gif)
Şekil 1.1(b) - p-kanallı JFET 'in Fiziksel Yapısı ve Smbolü |
Şekil 1.1.(a) 'da görüldüğü gibi n-tipi bir
maddenin iki yanına p-tipi madde enjekte edilerek n-kanallı
JFET elde edilir. İki p-tipi madde birleştirilerek gate ucu
çıkarılır. n-tipi maddenin bir ucu Drain, diğer ucu da Source
'dur. Burada gövde n-tipi maddeden meydana geldiği için JFET
'in adı n-kanallıdır.Gövdenin yapıldığı maddenin adı JFET
'in tipini belirler. JFET 'in çalışmasında n-kanallı üzerinde
durulacaktır
Aynı şekilde eğer gövde p-tipi maddeden oluşursa
p-kanallı JFET elde edilmiş olur. (Şekil 1.1.(b)) Sembollerden
de anlaşılacağı gibi ok yönü gate 'e doğru ise n-kanallı,
gate 'ten dışarı doğru ise p-kanallı JFET 'tir.

Şekil 1.2 - JFET 'in çalışması |
Şekil 1.2 'de n-kanallı bir JFET 'in uygun çalışma
için harici güç kaynaklarına nasıl irtibatlandırıldığı gösterilmiştir.
Drain, RL yük direnci üzerinden VDD
drain güç kaynağının pozitif terminaline, Source VDD
'nin negatif terminaline irtibatlandırılır. Gate, VGG
güç kaynağının negatif terminaline bağlanır. Bu irtibatla
Gate-Source p-n eklemi ters bayaslanmıştır yani polarmalandırılmıştır.
Gate p- maddesinden oluştuğu için VGG güç kaynağının
(-) terminali gate 'e, (+) terminali source 'a bağlanarak
ters polarma sağlanmıştır. Gate 'in ters polarmalanmasıyla
devreden akan gate akımı son derece küçük değerdeki bir ters
akımdır.
ID drain akımı, JFET üzerinde source
'den drain 'e doğru akar. (Akımın, güç kaynaklarının (-) terminalinden,
(+) terminale dolaştığı kabul edilmiştir.)
İlk durumda VGG güç kaynağının olmadığını,
gate ucunun doğrudan şaseye bağlı olduğunu düşünelim, Bu durumda
VGG=0V olduğu için Gate-Source arası voltaj da
(VGS) o Volt 'tur. Bu anda ID akımı,
n-tipi maddenin direnci ve RL tarafından limitlenir.
JFET üzerinden drain akımı (ID) arttkça n-madde
parçası boyunca bu gerilim düşümü meydana gelir. Bu gerilim,
source 'a göre pozitif olup, gate p-n eklemini ters polarmalanmıştır.
p-n eklemi ters polarmalandığı her durumda,
eklem civarında; içinde akım taşıyıcıları bulunmayan bir boşluk
bölgesi (eklem setti) meydana gelir. Bu furum Şekil 1.3 'te
p maddelerinin çevresinde gösterilmiştir. p maddelerinin çevresindeki
boşluk bölgesinde akım taşıyıcıları olmadığından ID
drain akımı akamaz. Böylece, drain kımı boşluk bölgeleri arasındaki
sahada sınırlandırılmış olunur. Bu bölge kanal olarak adlandırılır.
VDD kaynak voltajı arttıkça drain akımı da artar.
Fakat bu artış doğrusal değildir. Bu artışın doğrusal olmamasının
nedeni, gate p-n eklemindeki ters polarmalanmasının artmasındandır.
Şekil 1.3 'te VDD = 4 Volt iken boşluk
bölgesi ile VDD = 6 Volt iken boşluk bölgesinin
durumu görülmektedir. VDD drain kaynak voltajının
daha fazla arttırılması (VDD = 6V) Şekil 1.3 'te
görüldüğü gibi boşluk bölgelerinin birbirine daha fazla yaklaşmasına
neden olur. Böyle bir durumda drain kaynak voltajnın daha
fazla arttırılması ID drain alımında çok az bir
artış meydana getirir.
Böylece drain akımı saturasyona (doyum) ulaşmış
olur. Drain akımının saturasyon değerine ulaştığı noktaya
PINCH - OFF noktası denir. Pimch - off nokasına kritik gerilim
adı da verilebilir. VP ile gösterilir. Bu değer
n-kanallı JFET 'te negatif, p-kanallı da ise pozitif değerdir.

Şekil 1.4 - n-kanallı JFET Karakteristik Eğrisi |
Şekil 1.4 'te gösterilen karakteristik eğrinin
yatay ekseni Drain - source arası voltajı, dikey ekseni ise
ID drain akımını gösterir. Şimdi JFET 'in çalışmasını
bu karakteristik eğri üzerinda tekrar edelim;
**Gate - Source gerilimi (VGS) Şekil
1.2 'de olduğu gibi VGG bataryası ile sağlanırsa
JFET 'ten ID akımı akar. Gate - Source eklemi VGG
bataryası ile ters polarmalandığı için gate akımı IG=0
olur.
**Şekil 1.3 'te olduğu gibi gate - source arası voltaj 0 Volta
ayarlandığında ID drain akımı önemli bir büyüklüktedir
ve IDSS olarak adlandırılır. (IDSS =
Gate - Source eklemi kısa devre olduğunda Drain - Source arasında
akan akım) VDS, sıfırdan itibaren yaklaşık 4 Volta
kadar arttırıldığında ID akımıda artar. Karakteristik
eğride VA noktası kanal pinch - off noktasıdır.
IDSS değeri de yaklaşık 1mA 'dir.
**Pinch - off noktasından itibaren VDS voltaj değişime
karşılık ID akım değişimi çok çok azdır. Bu ana
saturasyon (doyum) denir.
**Eğer drain kaynak voltajı daha fazla arttırılırsa, ters
polarmalı gate ekleminin bozulma olayı (breakdown) meydana
gelir. Bu ise yüksek bir ID akımına neden olarak
JFET hasara uğrar.